一种数控加工过程多信号质量监测系统及方法

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一种数控加工过程多信号质量监测系统及方法
申请号:CN202510873299
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120763800A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种数控加工过程多信号质量监测系统及方法,属于数控加工技术领域。该方法包括以下步骤:步骤1,同步采集加工过程在微观、中观和宏观三个层级的多源信号;步骤2,筛选形成最优特征子集,构建多维特征表征空间;步骤3,构建同尺度横向关联矩阵、跨尺度纵向关联矩阵及基于双向注意力机制的交互关联矩阵,形成描述不同层级信号间特征耦合与依赖关系的关联网络结构;步骤4,计算各类信号特征的偏差度量值,结合关联网络的拓扑结构识别异常扩散路径,解析信号间的因果关系链;步骤5,将识别出的异常模式与预先构建的工艺知识图谱进行匹配,自动生成针对性的工艺参数优化建议,并进行实时评估,实现面向质量异常的闭环自适应控制。
技术关键词
数控加工过程 多信号 信号特征 监测方法 双向注意力机制 重构模型 重构误差 拓扑结构识别 节点 工件表面形貌 层级 网络结构 图谱 度量 模式 贝叶斯网络建模 表面粗糙度参数