一种测试管理方法、系统、设备及存储介质
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一种测试管理方法、系统、设备及存储介质
申请号:
CN202510882176
申请日期:
2025-06-27
公开号:
CN120631779A
公开日期:
2025-09-12
类型:
发明专利
摘要
本申请提供了一种测试管理方法、系统、设备及存储介质,方法包括:通过设定周期同步测试平台增量测试数据与缺陷管理系统的缺陷关联数据;采用预设清洗规则动态过滤无效用例;基于正则表达式提取失败用例的缺陷编号,生成含跳转至缺陷系统的超链接缺陷用例列表;根据用例执行状态及数量按周期生成测试报告。由此,通过周期同步测试平台增量测试数据与缺陷管理系统的缺陷关联数据,实现了跨系统数据自动关联,避免了人工匹配容易出现错误的问题,通过周期测试报告生成降低了测试报告延迟,并通过超链接配置实现了秒级缺陷定位。
技术关键词
缺陷管理系统
测试平台
测试管理方法
生成测试报告
测试管理系统
清洗规则
子模块
标识
列表
数据获取请求
验证缺陷
关键词提取算法
缺陷分析
字段
周期
格式
关系
缺陷系统