测试用例处理方法及装置

本申请公开了一种测试用例处理方法及装置，可用于芯片验证技术领域。所述测试用例处理方法，包括：对于第N轮回归测试中运行结束的测试用例，比对所述测试用例的标识信息和目标文件中测试用例的标识信息，得到比对结果；根据所述比对结果，更新所述目标文件中测试用例的标识信息，得到更新后的目标文件，使得在第N+1轮回归测试时，基于所述更新后的目标文件中测试用例的标识信息重新运行所述测试用例。本申请提供的测试用例处理方法及装置，在一轮回归测试结束后，记录需要保存的测试用例的标识信息，以在下轮回归测试中重新运行相应的测试用例，以验证缺陷的修复情况以及避免缺陷被遗漏。