一种用于多工作面倾斜度精密测量与调节的光学装置及计算方法

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一种用于多工作面倾斜度精密测量与调节的光学装置及计算方法
申请号:CN202510885388
申请日期:2025-06-30
公开号:CN120651194A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种用于多工作面倾斜度精密测量与调节的光学装置及计算方法,包括相互配合的光学传感器系统、移动系统和数据处理单元,光学传感器系统包括升降装置以及固定在升降装置移动端上并与数据处理单元信号连接以用于获取图像数据的光学传感器,移动系统包括X轴移动平台以及固定在X轴移动平台移动端上的Y轴移动平台;本发明将测量精度提升至电机运动精度范围并实现了对工作面和光学系统绝对倾斜度的独立测量,同时克服了传统测量方式的限制以适用于复杂的空间环境和多样化的调节需求,还简化了操作流程以提高了工作效率,且提高了系统可靠性和一致性的用于多工作面倾斜度精密测量与调节的光学装置及计算方法。
技术关键词
光学传感器系统 移动系统 相机 计算方法 移动平台 数据处理单元 视野 图像 光学装置 基准面 升降装置 精密调节机构 正态分布模型 出工作面 微调螺钉 精度 统计方法