一种高精度测量培养基抑菌圈直径的方法

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一种高精度测量培养基抑菌圈直径的方法
申请号:CN202510891417
申请日期:2025-06-30
公开号:CN120707616A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种高精度测量培养基抑菌圈直径的方法,包括步骤:S1图像采集及预处理:获取培养基图像并且对采集图像进行标准化预处理。S2抑菌圈语义分割:基于深度学习对预处理后的培养皿图像进行网络训练。S3边缘精确检测:基于语义分割结果提取抑菌圈的精确边界,采用亚像素级边缘检测算法。S4标尺识别与校准:采用智能图像识别算法自动检测并定位图像中测量标尺,集成校准精度验证机制,实现测量数据的实时自动校准。S5直径计算与结果输出:基于S3和S4结果,采用几何拟合算法计算抑菌圈的等效直径,生成标准化的测量报告。本发明融合深度学习与图像处理技术,实现抑菌圈直径的高精度自动化测量,具备强大的环境适应性。
技术关键词
抑菌 培养基 智能图像识别 边缘检测算法 拟合算法 深度学习网络 多尺度模板匹配 Zernike矩 验证机制 融合深度学习 边缘检测技术 高分辨率成像 标尺 药敏纸片 语义 像素 设备校准