一种芯片测试数据溯源方法及系统

本申请提供了一种芯片测试数据溯源方法及系统，运用于芯片测试技术领域，通过根据第一批次芯片加工位置步序计算其中芯片后续步序加工位置；获取计算数据后对应其中第一批次的相应芯片打入对应RFID数据；获取最终芯片测试结果对不良品的RFID数据定位对应加工步序；并调动对应视频、机位等监测数据进行计算和分析；具备解决目前的仅能按生产批次数千至十万芯片索引测试数据，无法精确定位单个芯片的测试记录，只能确定在某个批次的芯片是有误差的，例如，在一万次检测中，在某个阈值方面一直处于波动状态，而无法针对低波动谷值的批次进行依次溯源芯片的测试数据的技术问题。