一种设备校对检验方法、装置、电子设备及介质

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一种设备校对检验方法、装置、电子设备及介质
申请号:CN202510892311
申请日期:2025-06-30
公开号:CN120805432A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种设备校对检验方法、装置、电子设备及介质,方法包括:获取目标检验项目的三维模型和平面图纸;平面图纸上标记有目标检验项目中各个物料的检测项信息;基于三维模型的模型参数建立检验任务;检验任务包括至少一项检测项物料;基于检验任务,从平面图纸提取检测项物料的检测项信息,通过内容拆分得到检测信息;响应于目标对象的检验指令,获得检测项物料的检验信息;基于检测信息和检验信息进行信息校对,得到检验结果。本申请通过三维模型引导任务构建、智能提取图纸信息并结构化、以及自动化信息校对这三个关键环节的协同作用,能够高效准确实现设备校对检验,可广泛应用于数据处理技术领域。
技术关键词
检验方法 三维模型 图纸 指令 对象 项目 符号 检验设备 节点 电子设备 光学字符识别 公差 可读存储介质 数值 参数 数据处理技术 数据获取模块 检验装置 实体