一种准单能中子单粒子效应实验数据尾部修正方法及系统
申请号:CN202510896972
申请日期:2025-06-30
公开号:CN120977405A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种准单能中子单粒子效应实验数据尾部修正方法及系统,包括:基于准单能SEE实验数据建立器件RPP模型,准单能中子辐照下器件敏感体积能量沉积的等效LET谱计算,器件重离子SEE截面计算,峰值中子辐照下器件敏感体积能量沉积的等效LET谱计算,准单能中子峰值能量对应SEE截面计算。本发明直接利用准单能中子SEE实验数据结合蒙特卡罗仿真即可实现准单能中子单粒子效应实验数据尾部修正,实现快速、准确地获得器件中子SEE截面随能量的变化关系,节省了器件抗中子辐照评估的时间和成本。
技术关键词
中子
修正方法
粒子
效应
数据
蒙特卡罗仿真
参数
模块
计算方法
误差
定义
算法
密度
关系
尺寸