一种IGBT安全直通检测保护方法及系统

本发明公开了一种IGBT安全直通检测保护方法及系统，涉及晶体管检测领域，该保护方法包括：基于量子传感器获取晶体管的缺陷信息，并根据缺陷信息判断晶体管在直通检测过程中产生的电场扰动状态，预测晶体管直通检测的可行性；根据可行性调整晶体管直通检测的启停状态，并基于调整结果与光纤传感器捕捉晶体管的温度与应力变化，评估晶体管直通检测的准确性；根据准确性评估结果生成晶体管温度与应力自适应性调整方案，并将自适应性调整方案作为直通检测保护策略，保护晶体管直通检测过程。本发明在可行性不足时自动调整检测启停时间，避免在不稳定、风险高的状态下进行直通检测，从而确保检测本身具有更高的可靠性和执行成功率。