摘要
本发明公开了新型集成电路重工方法,属于集成电路重工技术领域,将切割后出现异常的芯片重新固定于膜上,将承载芯片的膜浸泡在冰醋酸溶液中并进行振荡处理,使溶液循环,将浸泡后的膜进行清洗,并进行惰性气体吹干,通过将晶圆切割后引起的氧化现象进行处理,将氧化异常的芯片重新固定于膜上,再将产品进行冰醋酸浸泡并进行振荡处理,最后采用去离子水清洗,以惰性气体吹干,去水汽后,通过UV光照或者烘烤,使UV膜或热解膜失去粘性,以便将处理好的芯片取下,通过本发明方法能够有效去除芯片表面产生的氧化层,且适用于各类铜氧化导致的异常,代替了传统蚀刻工艺并且简化了制程步骤,节约时间,方便操作。