摘要
本发明公开了一种基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法，包括：提取太赫兹设备扫描电极涂层时的回波信号飞行时间矩阵；根据飞行时间矩阵提取电极涂层的扫描数据，对飞行矩阵的坐标进行修正；使用前后双侧点云数据的曲率特征进行前后涂层的角度匹配对齐；选取具有内部均匀点特性的支撑点作为最终支撑点；最终支撑点使用相同的入射角和距离扫描平面发射太赫兹信号，根据传播时间得到干扰消除后的正反面涂层厚度并基于折射定律计算电极涂层的折射率。本发明解决了太赫兹设备在扫描双侧电极涂层过程中由放置不一致和翻转错误所导致的双侧涂层点云的匹配问题，以及减小了电极形变所造成的测量误差问题。
