芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品

本申请涉及半导体测试领域，提供了芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品。该方法包括：获取待测数字信号，待测数字信号为待测芯片对预设模拟信号进行信号处理得到；在待测数字信号为非整周期采样信号的情况下，调用目标窗函数对待测数字信号进行平滑处理，得到待测频谱数据；基于待测频谱数据以及预设的芯片性能合格指标，确定待测芯片的性能测试结果，预设的芯片性能合格指标基于待测芯片的性能参数确定。本申请能够在芯片测试系统各部分没有进行时钟信号同步的情况下仍能对离散数字信号进行处理，并能够对待测数字信号进行有效的平滑处理，从而最大程度地减少出现频谱泄漏和误差累积等问题，进而提高芯片测试结果的精确性。