摘要
本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种基于寄存器数组的随机验证方法、电子设备和介质，S1、设置m=1,执行S2；S2、向目标寄存器数组中的RAm和RBm输入相同的随机测试激励；S3、RAm预测随机写入值，将Fm更新为RAm预测的随机写入值；S4、RBm基于输入的随机测试激励写入随机数；S5、乱序读取待测芯片设计中所有寄存器的RTL实例中当前存储的数据与当前对应的参考值进行比对，若全部相同，则执行S6，否则，验证失败，结束流程；S6、对比m和M，若m<M，则设置m=m+1，返回执行S2，若m=M,则结束目标寄存器数组的随机验证。本发明能够实现包含寄存器数组的随机验证。
