基于二维BSDF的光线采样方法

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基于二维BSDF的光线采样方法
申请号:CN202510944281
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120446060B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明属于非序列光线追迹技术领域,尤其涉及一种基于二维BSDF的光线采样方法。方法包括:S1:基于光学表面的入射光线建立球坐标系,并在单位球面对角度进行能量划分,获得散射能量的二维联合分布;S2:利用散射能量的二维联合分布对各子区域进行采样,获得出射光线所在的子区域的天顶角下标和方位角下标;S3:在采样得到的出射光线所在的子区域的内部对天顶角和方位角进行均匀随机采样,获得出射光线的位置和出射方向;S4:重复步骤S1‑S3,直至基于入射至光学表面的所有入射光线对应解算出所有出射光线的位置和出射方向,完成光线采样。本发明不存在拒绝采样算法中的重复采样的问题,具有较高的采样效率。
技术关键词
方位角 采样方法 坐标系 算法 序列 定义 物理 参数