摘要
本申请公开了缺陷检测算法的评估方法、装置、设备及存储介质，属于缺陷检测算法的评估技术领域，包括：根据光电器件的特异度和敏感度确定光电器件的样本量；根据光电器件的类型和预设的分布规则确定样本分布；根据样本量和样本分布确定测试数据集；基于目标缺陷检测算法和测试数据集，得到光电器件的二分类标签和缺陷预测概率；根据二分类标签、缺陷预测概率和真实缺陷标签确定混淆矩阵；根据混淆矩阵计算目标缺陷检测算法的性能指标。本发明通过光电器件的特异度和敏感度结合样本分布确定测试数据，使得测试数据能够全面覆盖测试内容，通过混淆矩阵评估检测算法的性能指标，实现对缺陷检测算法准确且全面的评估。
