基于点云定位算法的3D激光线扫系统及控制方法

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基于点云定位算法的3D激光线扫系统及控制方法
申请号:CN202510953034
申请日期:2025-07-10
公开号:CN120703775A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明属于三维测量技术领域,本发明公开了基于点云定位算法的3D激光线扫系统及控制方法;其方法包括:获取环境初始点云数据及扫描目标信息;进行特征提取,构建环境特征描述模型并进行三维空间分区处理,并进行区域反射率特性分析,构建空间反射特性模型;对激光扫描参数进行自适应优化配置,并生成扫描策略;对扫描目标信息进行扫描路径动态规划,并进行扫描密度分布计算,生成扫描路径;利用扫描路径及扫描策略进行激光线扫控制,并进行扫描数据质量实时监测,得到扫描质量评估数据;对扫描质量评估数据进行扫描参数迭代优化,并进行点云数据实时融合重建,生成高精度三维模型,在提高建模精度的同时,也优化了系统资源利用效率。
技术关键词
定位算法 扫描策略 高精度三维模型 扫描点云数据 反射率 激光入射角 生成参数 复杂度 扫描盲区 功率 扫描规划 多视角 分区模块 多分辨率