一种芯片通信接口测试系统与方法

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一种芯片通信接口测试系统与方法
申请号:CN202510953094
申请日期:2025-07-10
公开号:CN120803828A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种芯片通信接口测试系统与方法,上位机通过第一接口板将待测芯片配置为写模式,并向开关芯片发送本轮测试的写指令,写指令包括至少一个接口板标识;开关芯片将写指令转发给多个第二接口板;第二接口板在与写指令中的任一接口板标识匹配时,将写指令对应的目标数据写入待测芯片;在本轮测试的写指令执行完成后,上位机通过第一接口板将待测芯片配置为读模式,读取待测芯片在本轮测试中所写入的数据,并将读取数据与对应的目标数据进行比对,以生成表示通信接口是否合格的测试结果。测试系统的结构简单,测试效率高,且准确度更高。
技术关键词
待测芯片 通信接口测试方法 指令 标识 数据 开关 模式 端口