一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备

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一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备
申请号:CN202510954150
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120652263A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,具体为一种芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备,包括矢量网络分析模块和测试插座模块,所述测试插座模块的内部开设有惰性气腔和圆柱腔槽,所述惰性气腔和圆柱腔槽相互连通,惰性气腔的内部气体为惰性气体;本发明芯片内部信号传输阻抗匹配测试设备,在测试时主动控制探针部回缩,在芯片放置到位后,再控制探针部顶出建立测试连接,能够有效避免芯片的焊球触点与探针部发生硬性摩擦或碰撞。
技术关键词
插座模块 测试设备 矢量网络分析 探针 气压控制系统 PCB板 电磁铁模块 活塞 气压传感器 信号 芯片测试技术 连线 侧翼 包裹 套筒 射频电缆 限位凸环 金属板 伺服电机