摘要
本发明提供了一种半导体发光芯片的制作工艺,涉及芯片制作工艺技术领域,包括进行晶圆衬底抛光清洗;用MOCVD设备生长外延结构;通过光刻刻蚀系统形成台面结构,用溅射设备沉积ITO层并退火,并制作电极及钝化层;进行晶圆级和单元芯片级测试;用衬底转移系统进行键合转移;进行晶圆切割和封装。本发明步骤A1采用清洗设备对晶圆衬底进行双面抛光和RCA清洗,彻底去除晶圆衬底表面的机械损伤层、有机污染物及金属离子,通过步骤A2对外延结构的外延质量进行实时监控,保障芯片发光性能的稳定性,通过步骤A3采用光刻刻蚀系统进行深紫外光刻和反应离子刻蚀,同时通过溅射设备使导电率提升,改善电流分布均匀性,降低芯片工作电压与功耗。