一种PCB缺陷检测方法、装置及电子设备
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一种PCB缺陷检测方法、装置及电子设备
申请号:
CN202510960238
申请日期:
2025-07-11
公开号:
CN121010548A
公开日期:
2025-11-25
类型:
发明专利
摘要
本申请提供一种PCB缺陷检测方法,包括:获取待测PCB的外观图像;基于所述待测PCB的外观图像对所述待测PCB进行外部缺陷检测;响应于确定所述待测PCB存在外部缺陷,则基于所述外部缺陷生成检测结果;响应于确定所述待测PCB不存在外部缺陷,则基于所述待测PCB生成数字孪生模型,以进行内部缺陷检测。本申请有利于提升对待测PCB的检测效率的同时,还能够完成对待测PCB的外部缺陷和内部缺陷的检测,有利于提升对待测PCB的检测精度。
技术关键词
数字孪生模型
PCB缺陷检测方法
内部缺陷检测
导通缺陷
图像
高清
仿真模型
缺陷检测装置
元器件
摄像单元
电子设备
数据更新
处理器
模块
存储器
多角度
传感器
短路
逻辑