一种存储芯片的测试方法及系统

本发明提供了一种存储芯片的测试方法及系统，涉及存储芯片技术领域，方法包括：获取存储芯片的物理参数数据；以存储单元为单位，将各个物理参数数据以耦合方式映射至低维流形空间；计算每个存储单元在低维流形空间中的局部曲率；利用基于平均值和标准差的自适应局部曲率阈值与局部曲率之间的大小关系，对存储单元进行筛选；结合低维流形空间，基于最优传输理论生成故障潜在区域的测试路径；按测试路径对存储芯片进行一次测试；结合代数拓扑中的同调群验证故障潜在区域是否完全测试，若是，则输出测试得到的故障存储单元，否则，生成补测路径，并根据补测路径进行二次测试。可以有效提升测试效率和故障单元的识别准确性。