一种芯片测试电路、芯片及测试方法

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试电路、芯片及测试方法，电路包括若干个测试模块组与对应的逻辑计算模块，测试模块组包括若干个测试模块；相邻两测试模块的测试向量输入端与测试向量输出端连接，相邻两测试模块的预期值输入端与预期值输出端连接；测试向量输入端接入测试向量，预期值输入端接入预期测试向量值，控制端接入控制信号，测试向量与预期测试向量值经比较单元进行比较后输出比较结果至逻辑计算模块；逻辑计算模块用于根据比较结果输出序列值。本发明在对内部具有很多相同电路模块的芯片进行测试时，通过对相同模块进行分组，每组测试模块可以同时进行测试比对，不仅能够快速定位到失效模块，且提高了测试效率。