一种射频芯片性能测试的实时可视化方法与可视化系统

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一种射频芯片性能测试的实时可视化方法与可视化系统
申请号:CN202510973824
申请日期:2025-07-15
公开号:CN120934649A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明设计射频芯片性能测试技术领域,具体提供一种射频芯片性能测试的实时可视化方法与可视化系统,通过多线程异步采集架构替代传统单线程顺序控制,显著提升了测试效率;通过为每个测试数据添加时间戳标签机制使得跨设备数据同步精度达到微秒级,解决了射频信号与直流偏置的异步触发问题。自动关联构建的射频指标数据表实现了多组合下多参数的智能聚合分析,避免了传统方案中数据分散存储导致的人工匹配错误。基于测试协议的自动阈值设置与实时判定功能,支持多协议标准下,判断标准的智能切换,减少了人工配置的错误,避免了协议更新时的修改。实时可视化渲染使用户能够动态观察多参数关联变化趋势,提高了问题定位的效率。
技术关键词
射频芯片 可视化方法 可视化系统 控制线 误差向量幅度 异步控制 协议 指标 测试设备 邻道泄漏比 交互式可视化 性能测试技术 标签 异常数据点 多参数 模块 可视化界面 跨设备