一种基于YOLOV11的PCB表面缺陷检测方法

本发明提供了一种基于YOLOV11的PCB表面缺陷检测方法，通过连接树莓派的CMOS图像传感器进行采集PCB图像，在成本低的树莓派上对缺陷图像进行挑选，使用GAN扩增图像数据集，图像标注，图像预处理，图像训练及测试，并在树莓派上对YOLOv11模型进行封装等步骤，解决了YOLOv11模型在PCB缺陷检测中样本数少、准确率低、精度不够的问题，本申请所提供的方法具有成本低、鲁棒性高、泛化能力强、准确度高的特点。