基于深度学习的偏光片缺陷检测方法及系统

本发明提供一种基于深度学习的偏光片缺陷检测方法及系统，通过获取待检测偏光片对应的初始图像数据集合，通过图像预处理及特征提取操作从所述初始图像数据集合中提取所述偏光片表面图像中的缺陷候选区域特征和所述偏光片表面的纹理分布特征；将所述缺陷候选区域特征和所述纹理分布特征输入预训练的缺陷识别深度学习模型进行联合缺陷识别操作，生成所述偏光片表面图像的缺陷初步识别结果；基于所述缺陷初步识别结果确定所述待检测偏光片中存在的缺陷的缺陷类型及所述缺陷在偏光片表面的空间分布特征信息。本发明能够实现缺陷检测结果与生产质量控制流程的有效衔接，提升偏光片缺陷检测的实用性和对生产过程的指导价值。