缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质
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缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质
申请号:
CN202510983283
申请日期:
2025-07-16
公开号:
CN120598935A
公开日期:
2025-09-05
类型:
发明专利
摘要
本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括:获取待检测的工业器件的三维重建数据;对待检测的三维重建数据进行预处理,其中,预处理为CLAHE处理和sobel处理的融合处理;基于预设YOLO模型获取预处理后的待检测的三维重建数据对应的工业器件存在的缺陷的分类和定位;其中,预设YOLO模型基于预设损失函数训练获得,预设损失函数引入了上下文一致性损失。该方法能够提高缺陷检测的效率和准确性。
技术关键词
YOLO模型
缺陷检测方法
切片
训练样本集
数据
缺陷检测装置
电子设备
工业
处理器
网络结构
可读存储介质
存储器
程序
计算机
物理