待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置

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待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置
申请号:CN202510987091
申请日期:2025-07-17
公开号:CN120781792A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片验证技术领域,公开了一种待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置。该验证方法包括,在接收到测试激励标识的情况下,通过激励生成组件获取测试激励标识对应的目标配置文件;通过解析组件对目标配置文件进行参数解析,得到目标配置参数集;通过激励生成组件基于目标配置参数集生成测试数据包,并将测试数据包存储至内存模型组件,以供待测设计利用测试数据包进行验证。至此,利用激励生成组件动态加载对应测试激励的目标配置参数集,将配置参数从硬性生成激励代码的逻辑中剥离,大幅提升了待测设计的验证效率。
技术关键词
芯片验证装置 测试场景 参数 标识 验证方法 内存 服务组件 芯片验证技术 定义 测试点 动态 基础 逻辑