基于计算机视觉的元器件缺陷检测方法及系统

本发明涉及图像分析技术领域，具体涉及一种基于计算机视觉的元器件缺陷检测方法及系统。本发明首先获取光电子芯片的芯片图像，提取排线区域，通过LSD算法识别排线区域的线段；进一步根据线段的空间分布，获取排线的转折区域；进一步根据每个转折区域相对于公共弧心的分布和包含的线段数量，调整预设容忍度并重新识别线段，获取修正转折区域；进一步根据单个修正转折区域内每个线段的长度和角度的异常特征，筛选出缺陷线段；最后根据缺陷线段的数量和长度，结合同组相邻修正转折区域之间间隔的均匀程度，以及弧心点的偏离分布，标注缺陷。本发明优化转折区域的线段识别，筛选缺陷线段并结合转折区域的空间分布，实现异常排线的精确标注。