一种基于周期串联侧抛光子晶体光纤结构的多点折射率测量光纤传感器
申请号:CN202510993328
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120927615A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于周期串联侧抛光子晶体光纤结构的多点折射率测量光纤传感器。该传感器依次包括第一单模光纤、第一段无芯光纤、多个周期串联结构单元、第二段无芯光纤以及第二多模光纤,其中每个周期结构单元由一段单模光纤与一段光子晶体光纤组成。所述光子晶体光纤部分均经过侧抛处理,且各段的侧抛深度依次不同。通过调节抛光深度,可控制各结构单元与外部介质之间的模式耦合强度,从而在传输光谱中产生不同位置的共振波长响应。每个共振峰对应一个独立的空间感测区域,实现对多个位置处折射率变化的同时感知。该结构具有装配灵活、结构紧凑、响应灵敏度高等优点,尤其适用于微流控芯片系统中多区域折射率实时监测。相比传统单点传感器,本发明通过模块化串联设计提高了传感通道数量,有利于提升微流控平台的信息获取能力和检测效率,具有良好的可实现性。
技术关键词
光纤结构
光子晶体光纤
光纤传感器
无芯光纤
单模光纤
抛光
结构单元
柚子
周期
待测液体
波长
多模光纤
集成微流控芯片
模块化组装方式
高分辨率光谱仪
光谱探测系统
位移控制系统
光信号