一种晶圆级砷化镓芯片散热封装结构及封装方法

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一种晶圆级砷化镓芯片散热封装结构及封装方法
申请号:CN202510994610
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120511238B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种晶圆级砷化镓芯片散热封装结构及封装方法,该封装结构中将主芯片和砷化镓芯片通过重布线层实现平面互联,在砷化镓芯片背面涂覆有高导热/或高导热散热胶/或贴有高导热DAF膜与上方的高导热晶片粘贴,形成高密度的互联重构芯片,重构芯片通过金属凸点与基板焊接互联,在基板与重构芯片顶部盖有散热盖,或者在基板上贴装散热环同时在重构芯片顶部盖有散热鳍片,使散热盖或散热鳍片与高导热晶片直接粘接接触,砷化镓芯片经高导热晶片、散热盖或散热鳍片将内部热量传导出去。本申请相较于传统的砷化镓芯片嵌入式封装结构而言,塑封料减少且塑封厚度减薄,能够减少翘曲,就封装方法而言能降低加工难度,且导热效果显著提高。
技术关键词
砷化镓芯片 散热封装结构 封装方法 重布线层 散热盖 基板 高导热 底部填充工艺 植球工艺 表面贴装工艺 散热胶 贴装元器件 嵌入式封装结构 倒装工艺 贴膜工艺 散热环