一种基于光场逆渲染的流水线反光低纹理零件位姿检测方法

本发明公开了一种基于光场逆渲染的流水线反光低纹理零件位姿检测方法。包括：S1、设备标定；S2、通过光场标定生成环境光场；S3、采集金属零件的图像，通过边缘检测得到实际边缘，通过位姿估计生成初始预测位姿；S4、在环境光场下，通过渲染得到预测位姿下的渲染图像，获取渲染图像中待检测金属零件三维模型的梯度，进行归一化和求幂处理，得到渲染边缘；根据渲染边缘和实际边缘计算得到损失函数值和位姿梯度，根据位姿梯度更新预测位姿；S5、重复S4直至达到预设终止条件，得到最佳的预测位姿作为位姿检测结果。本发明在进行一次光场标定后，可完成该流水线上所有零件位姿检测任务，无需二次标定，可以满足实际应用中高效检测的需求。