一种芯片测试分选机及其控制方法

本申请涉及一种芯片测试分选机及其控制方法。该芯片测试分选机主要包括工作台以及设置在所述工作台上的支架，所述工作台上还设置有蓝膜片移动组件、测试中转台以及分选承载台，所述支架上设置有芯片移动组件以及视觉检测组件，其中：所述芯片移动组件用于将所述蓝膜片移动组件上的芯片移动到所述测试中转台上，以及将所述测试中转台上的芯片移动到所述分选承载台上；所述芯片移动组件上设置有连接第一测试电极的第一探针，所述测试中转台上设置有连接第二测试电极的第二探针。本申请能够简化电性能测试和芯片分选的步骤，提高电性能测试和芯片分选的效率，进而实现高效的电性能测试和芯片分选。