一种光掩模3D缺陷检查装置及方法
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一种光掩模3D缺陷检查装置及方法
申请号:
CN202511021529
申请日期:
2025-07-24
公开号:
CN120689343A
公开日期:
2025-09-23
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种光掩模3D缺陷检查装置及方法,包括建模单元、扫描单元和对比单元。建模单元通过AI算法与建模软件将光掩模产品图像数据进行建模形成3D模型;扫描单元在密闭腔室环境内对实物进行3D扫描;对比单元将3D模型和3D实物扫描后的结果进行重合对比,通过对比将异常位置准确标定出来。本发明采用波长更短的X射线和EUV光,可以满足更高等级产品的缺陷检查工作,通过全息影像3D对比的方式,可以检测到现有技术所不能发现的缺陷,提高缺陷检查的准确性和效率。
技术关键词
缺陷检查装置
缺陷检查方法
掩模
AI算法
扫描单元
影像
图像
ReLU函数
工件台
数据输入模块
软件
扫描设备
腔室
分析模块
计算机
波长
坐标
介质