半导体器件及其制备方法、芯片

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半导体器件及其制备方法、芯片
申请号:CN202511021876
申请日期:2025-07-24
公开号:CN120529627B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种半导体器件及其制备方法、芯片,涉及半导体芯片技术领域,旨在解决电极与金刚石衬底表面的粘附性较差问题;所述半导体器件包括金刚石衬底、介质层、电极和栅极;介质层设于金刚石衬底的一侧;栅极设于介质层远离金刚石衬底的一侧;电极设于金刚石衬底的一侧,且与介质层位于金刚石衬底的同一侧;电极包括第一电极和第二电极,介质层至少部分设于第一电极和第二电极之间;栅极设于所述介质层远离金刚石衬底的一侧;其中,电极包括第一金属层;第一金属层的材料包括:第一金属和第一金属的金属碳化物,第一金属的金属碳化物位于第一金属层靠近金刚石衬底的一侧。
技术关键词
金刚石衬底 半导体器件 金属碳化物 电极 介质 半导体芯片技术 终端 栅极 热处理 陶瓷 离子
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