绝缘子缺陷检测方法

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绝缘子缺陷检测方法
申请号:CN202511022171
申请日期:2025-07-24
公开号:CN120931824A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种绝缘子缺陷检测方法,通过获取绝缘子的旋转体曲面模型,将该旋转体曲面模型作为旋转体原始模型,将重新构建的该旋转体曲面模型沿径向对半分割,并分别进行参数化处理且生成对应的二维法向图,由人工在该二维法向图中标注出疑似缺陷区域,再以标注的该疑似缺陷区域为基础,根据旋转对称特性构建优化目标函数对旋转体原始模型做优化处理,得到旋转体理想曲面优化模型,再将旋转体原始模型与该旋转体理想曲面优化模型比对后的空间差异区域作为待检测绝缘子的精确表面缺陷区域,从而完成对绝缘子缺陷区域的高精度、高效率和高可靠性的检测,实现了对绝缘子表面缺陷区域的实时准确定位。
技术关键词
旋转体 标记缺陷 拉普拉斯 三维模型 顶点 颜色 面片 绝缘子缺陷 参数 旋转轴 矩阵 曲面 网络拓扑结构 轴对称 坐标 高效率 立体