一种基于粒子群算法的片上校准件寄生参数提取方法

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一种基于粒子群算法的片上校准件寄生参数提取方法
申请号:CN202511022249
申请日期:2025-07-24
公开号:CN120908729A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于粒子群算法的片上校准件寄生参数提取方法,包括通过TRL计算待测传输线传播常数,校准件的直流电阻和反射系数计算待测传输线线电容,建立校准件寄生参数等效电路模型,根据寄生参数计算校准件真实散射参数;根据所述校准件真实散射参数和所述散射参数测量值计算12项误差项;设置目标函数作为约束条件使所述待测传输线的校准值逼近所述待测传输线真实散射参数,使用粒子群算法优化寄生参数,输出一组最优寄生参数。本发明通过建模传输线模型计算其真实散射参数,利用粒子群算法,以校准后传输线参数逼近其真实值为目标用以优化寄生参数,有效确保了校准件寄生参数的准确性。
技术关键词
寄生参数提取方法 校准 粒子群算法优化 等效电路模型 表达式 传输线模型 电容 误差 短路 因子 方程 线性 社会 速度