DDR存储芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质

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DDR存储芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质
申请号:CN202511024386
申请日期:2025-07-24
公开号:CN120849201A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种DDR存储芯片测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质,应用于DDR存储芯片测试装置,所述DDR存储芯片测试装置安装第一存储芯片测试应用和第一操作系统;所述方法包括:在所述DDR存储芯片测试装置与被测试设备之间建立通信连接时,获取所述被测试设备的第一设备标识信息;所述被测试设备包括第二操作系统和DDR存储芯片;检测所述第一设备标识信息是否存在于第一预设设备标识信息集;在所述第一设备标识信息存在于所述第一预设设备标识信息集时,通过所述第一操作系统运行所述第一存储芯片测试应用以对所述DDR存储芯片进行测试。本申请实施例可以提升测试效率。
技术关键词
设备标识信息 存储芯片测试方法 操作系统 测试设备 可执行程序代码 可读存储介质 建立通信 测试模块 处理器 指令 计算机设备 存储器 模式 参数