雷管芯片测试设备

本发明公开了雷管芯片测试设备，包括物料输送线、不良品出料机构、框体输送线、双层输送机构、料盘转移机械手、上下料机构及两组测试装置，物料输送线输送承载雷管芯片的第一料盘；两组测试装置并排设于物料输送线的一侧，每组测试装置包括至少一个测试机构，测试机构用于对雷管芯片进行测试；不良品出料机构设于两组测试装置之间；框体输送线包括两条运输线和框体转移机构，两条运输线平行设置且运输方向相反，运输线用于运输装载第二料盘的胶框，框体转移机构用于将第一条运输线上的空载胶框转移至第二条运输线上。本雷管芯片测试设备结构新颖，工站布局合理，利于控制测试设备总体积，功能部件行程短，利于提高测试效率。