基于X光的坚果缺陷检测系统及方法
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基于X光的坚果缺陷检测系统及方法
申请号:
CN202511038325
申请日期:
2025-07-28
公开号:
CN120543552B
公开日期:
2025-10-03
类型:
发明专利
摘要
本申请公开了基于X光的坚果缺陷检测系统及方法,涉及X射线检测技术领域,解决了现有的坚果缺陷检测方法,适用于不同种类坚果的检测时,识别准确率降低的技术问题;获取待检测坚果的检测图像组;所述检测图像组由若干X光图像组成;基于检测图像组生成识别特征图,基于识别特征图与缺陷特征库中的缺陷特征图进行比较得到检测结果;所述缺陷特征库由若干带有缺陷的坚果检测图像生成;通过针对性的构建缺陷库,以及使用待检测坚果的特征数据对坚果进行缺陷识别,提高了在对不同种类坚果检测时的准确率。
技术关键词
识别特征
缺陷检测方法
功率
图像
人工智能模型训练
缺陷检测系统
数据分析模块
X射线检测技术
BP神经网络模型
数据获取模块
标记
密度
频率
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