针对液晶面板微米级划伤缺陷的检测方法与系统

本发明涉及高端装备制造领域的针对液晶面板微米级划伤缺陷的检测方法与系统，包括：根据增强后的缺陷初步图像，采用边缘检测算法进一步分析微米级划伤的边界特征，从中获取划伤的具体位置和形态信息，确定缺陷的详细分布图；针对缺陷的详细分布图，通过对比预设的缺陷阈值标准，若检测到的微米级划伤特征超过阈值，则标记为高风险区域，得到分类后的缺陷风险图；根据分类后的缺陷风险图，采用图像融合技术将高风险区域与原始透射图像进行叠加处理，获取缺陷可视化度更高的最终检测图像；根据最终的检测报告，生成针对性反馈数据，传输至生产控制系统，用于后续工艺调整，完成从检测到反馈的闭环处理流程。