基于微流控-CFD-DEM的蜡晶絮凝体内聚力及微观力学参数测量方法
申请号:CN202511043699
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120954527A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及的是基于微流控‑CFD‑DEM的蜡晶絮凝体内聚力及微观力学参数测量方法,将微流控实验观测与CFD‑DEM数值模拟相结合,定量表征蜡晶絮凝体的形成‑破碎动力学行为;微流控实验观测通过蜡晶絮凝体动态行为观测平台进行,实现对蜡晶絮凝体形成过程和在流体剪切作用下的破碎过程的可视化观测;CFD‑DEM中构建与微流控实验条件一致的数学模型,通过双向流固耦合计算模拟絮凝体在剪切流场中的动态破碎过程;再将模拟的破碎结果与微流控实验观测数据进行比对,当两者相对误差小于一定值时,实现对蜡晶絮凝体内聚力及微观力学参数的精确测量。本发明实现了通过实验现象反演蜡晶絮凝体内聚力及微观力学参数的精确测量。
技术关键词
力学参数测量方法
絮凝
微流控通道
高分辨率显微成像系统
偏光显微镜
颗粒运动速度
立柱结构
成像模块
动态
控温模块
显微热台
多物理场耦合环境
智能优化算法
动力模块
介质
微流控芯片结构
多通道微流控芯片