一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置

本发明属于农产品加工及无损检测技术领域，提出了一种基于X射线的核桃破壳下的果仁损伤评估方法及装置，方法包括：采集核桃样本的X射线图像并进行预处理；将图像输入深度学习实例分割模型获得图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜；根据图像中所有核桃果仁结构块的分割掩膜确定核桃果仁的结构特征参数；根据结构特征参数构建线性加权的结构损伤模型；根据结构特征参数确定第一加权系数和第二加权系数；将第一加权系数和第二加权系数带入线性加权的结构损伤模型确定核桃样本的最终损伤度。本发明通过X射线成像技术对核桃破壳后的果仁结构进行非接触式内部成像，避免了传统方法中因施加机械力或破坏性处理所带来的二次损伤问题。