一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质

本申请公开了一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质，涉及存储技术领域，获取对Raid芯片进行性能验证的性能验证场景信息；获取与性能验证场景信息对应的原始芯片配置信息；根据性能验证场景信息和原始芯片配置信息，生成Raid芯片的测试模型；按照测试模型，生成目标芯片配置信息；按照目标芯片配置信息进行芯片形态构建，得到测试芯片；根据性能验证场景信息对测试芯片进行性能测试，得到性能测试结果。本申请将Raid芯片性能验证由芯片固件适配完成之后提前到了原型验证阶段，有利于更早发现Raid芯片更深层次的问题，进而减少了硬件的迭代周期并降低了修改成本，推动了芯片硬件性能的快速收敛。