芯片测试系统的校准方法和校准件

本发明涉及芯片测试系统的校准方法和PCB校准件，系统包括：网络分析仪；PCB测试板，用于连接网络分析仪；测试座，连接PCB测试板，并具有用于放置待测芯片的容纳空间；PCB校准件，用于放入容纳空间中。方法包括：将PCB测试板连接至网络分析仪，将测试座连接至PCB测试板，并将PCB校准件放入容纳空间，PCB校准件的输入引脚和输出引脚分别连接网络分析仪的发射端和接收端；网络分析仪的发射端发送射频信号，射频信号通过PCB测试板和测试座传输至PCB校准件；网络分析仪接收PCB校准件反射和/或传输的射频信号；根据接收的PCB校准件反射和/或传输的射频信号，对系统误差进行校准。