ZYNQ芯片固化程序校验方法及系统和可读存储介质

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ZYNQ芯片固化程序校验方法及系统和可读存储介质
申请号:CN202511058059
申请日期:2025-07-30
公开号:CN120892244A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种ZYNQ芯片固化程序校验方法及系统和可读存储介质,涉及芯片程序校验技术领域。本申请通过充分利用芯片固化程序的程序编译特性,以及程序和可表征相关程序代码整体状态的特性,在ZYNQ芯片上电后针对当前加载的芯片固化程序仅测算与处理器系统关联的实际程序和值,来与已记录固化程序版本的原始处理器系统程序和值进行信息匹配校验,无需消耗更多的初始化时间针对整个芯片固化程序进行整体程序和测算,从而在节约产品初始化时间的同时,确保对应固化程序校验结果具备较强的可靠性,方便产品研发人员或交付产品审核人员快速确认当前芯片固化程序的正确性状况,以及当前芯片固化程序与已记录固化程序版本号之间的适配状况。
技术关键词
ZYNQ芯片 处理器系统 信息比对设备 程序校验方法 电子设备 二进制程序文件 程序校验技术 校验系统 数值 可读存储介质 存储器 数据 尺寸