识别二维材料伪单晶的方法及系统、电子设备、存储介质

本公开涉及一种识别二维材料伪单晶的方法及系统、电子设备、存储介质。该识别二维材料伪单晶的方法，包括以下步骤：提供样品，样品包括平坦基底以及位于平坦基底上的二维材料层；采用暗场显微镜观测二维材料层，并获取二维材料层的光学图像；将光学图像中由明亮边界线围成的封闭区域作为目标区域；响应于目标区域内呈现相同的亮度，确定目标区域为真单晶；响应于目标区域内呈现不同的亮度，确定目标区域为伪单晶。本公开能够快速、低成本、且无损伤的识别二维材料中的伪单晶，进而使用可靠的真单晶提升器件的性能。