芯片电源网络补偿方法、装置、设备、存储介质及程序

本公开提供了一种芯片电源网络补偿方法、装置、设备、存储介质及程序，涉及集成电路技术领域，具体涉及芯片以及电路设计技术，可应用于芯片测试优化的应用场景中，其中，方法包括：确定目标芯片的当前电源网络的动态功耗违例区域；根据动态功耗违例区域的电压降违例分布信息对动态功耗违例区域进行补偿优先级分类，得到违例优先级分类区域；根据违例优先级分类区域的补偿优先级确定各违例优先级分类区域的局部电源网络补偿策略。本公开实施例能够提高芯片电源网络补偿的效率和精度。