一种结合全尺度融合的轻量级PCB缺陷检测方法

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一种结合全尺度融合的轻量级PCB缺陷检测方法
申请号:CN202511063245
申请日期:2025-07-31
公开号:CN120953210A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种结合全尺度融合的轻量级PCB缺陷检测方法,基于YOLOv8设计出一种结合全尺度融合的轻量级PCB缺陷检测算法,首先通过改进颈部网络的特征融合结构,使用自搭建的全尺度多重融合特征金字塔网络结构改善特征融合,同时使用统一通道数加权融合的方式减少模型参数并提高检测效果;其次通过改进主干网络中C2f模块,融合单头注意力机制改善原模型学习特征冗余;最后采用共享参数结构和SCConv模块对检测头进行轻量化。与目前已有的PCB检测算法相比,本发明算法在提高PCB缺陷检测精度的同时,在模型轻量化上取得了显著的的提升,为边缘端设备部署的实现提供了有力的支持。
技术关键词
PCB缺陷检测方法 信息传递载体 缺陷检测算法 光照鲁棒性 特征金字塔网络 通道 注意力机制 多尺度感知 检测头结构 输出特征 跨层特征 构建训练集 冗余 参数 定位特征 学习特征 多分辨率 指标 工业相机