一种基于智能算法的电路板AOI检测结果分析方法

本发明公开了一种基于智能算法的电路板AOI检测结果分析方法，其核心在于对检测图像与多维工艺参数进行高精度同步采集、去噪归一化处理和时序对齐，利用注意力机制提取联合特征，建立各工艺场景下的工艺参数‑检测结果关联分布模型，实现模型输出异常漂移检测及溯因推理，并结合可解释性AI动态优化检测模型与工艺参数，该方法实现了对工艺参数变动引发的检测误判的高效追踪、归因和自适应优化，提升了SMT检测系统生产工艺的稳定性。