一种电子元器件数据深度分析检测方法及系统

本发明公开了一种电子元器件数据深度分析检测方法及系统，涉及设备检测技术领域，包括通过传感器收集电子元器件运行数据进行预处理；基于时序自回归提取时序特征，并使用变分自编码器进行时序特征建模和演化；对演化的时序特征进行数据压缩和重构造并构建故障检测模型对重构造的时序特征进行分析检测；将运行数据和检测结果进行展示并存储至数据库中。本发明通过提取电子元器件运行数据时序特征，对时序特征进行建模和演化得到更新的非线性编码器输出，提高了特征提取的准确性和灵活性，动态反映电子元器件工作状态变化，同步通过故障检测模型对电子元器件运行状态进行分析，可以准确地发现潜在故障，提高检测的实时性和准确性。